A1346:带用于安全关键应用的高级诊断功能的双晶片可编程霍尔效应线性 IC

A1346 是安全关键应用的理想解决方案。其在全晶片冗余的同时融入了高级诊断的优势。结合其中的两项功能就可以提高诊断水平，而且不会造成应用（否则，诊断可能造成晶片临时无反应）运行中断。这种组合方式可以允许控制器判断当晶片输出不一致时应依赖哪一个晶片。

A1346 器件是一款适用于汽车和非汽车应用并带漏极开路输出的高精度可编程线性霍尔效应传感器双集成电路 (IC)。A1346 的信号通道可通过外部编程实现灵活性，而外部编程可确保从输入磁性信号产生准确和定制化的输出。A1346 是一种可以灵活配置的可靠解决方案，可以用于要求最严苛的线性磁场传感器应用。

BiCMOS 单片集成电路的每个 SoC 上包含：霍尔感应元件、用于降低霍尔元件固有的灵敏度和偏移漂移的高精度温度补偿电路、小型信号高增益放大器、专有动态偏移取消电路、以及高级诊断探测。A1346 提供无与伦比的客户可编程选择。

A1346 的一个关键特征是能够在非线性输入磁场中产生高线性器件输出。为实现这点，该器件配备 16 个客户可编程线性区段，且每个区段应用独特的线性化系数。线性化系数存储在 EEPROM 的查找表中。

除了 SAEJ2716 外，A1346 还包括两个额外的专利 SENT 选项：SSENT 和 ASENT。这两种协议允许用户在一条 SENT 线路上连接四台设备，从而降低系统成本。SSENT 允许对相同线路上连接的传感器进行时序访问。SSENT 提供一种花费非常低的方法，最大程度上增加一条 SENT 线路上的传感器带宽，并最大程度上减低对系统性能的影响。ASENT 提供一种随机访问公共 SENT 线路上的所有传感器的方法。这两种协议都允许相同线路上的单个传感器进入诊断模式，同时其他传感器继续对询问做出应答，在保持传感器解决方案 100% 可用性的同时提供最高的诊断覆盖率。

A1346 采用表面安装型无铅 (Pb) 14 引脚 TSSOP 封装（LE 后缀），引脚框采用 100% 雾锡电镀。

• 一个封装中采用两个电气隔离晶片，可以满足要求最严苛的安全关键应用
  • 一旦其中一个镜片发生故障，自我诊断功能将允许控制器决定继续使用哪一个晶片
  • 影响反应的诊断可以在单个晶片上运行，其他诊断全面运行
  • 对于下面的所有功能，可以参考封装中的其中两个晶片
• 高速模拟、模数转换器 (ADC) 和数字架构允许用户针对速度敏感应用选择带宽
  • 四相斩波稳定，最大程度上减少温度范围内的失调漂移
  • 16 位高更新率 ADC
• 在生命周期内和温度变化条件下的极佳稳定性
  • 出厂设置中采用了多段温度补偿，可以在工作温度范围内提供平坦的基线
  • 客户可以配置一阶和二阶灵敏度以及温度范围内的一阶偏置补偿
  • 集成反馈线圈可以补偿整个产品生命周期内的漂移
• 广泛的操作灵活性，可以满足任何应用需求：
  • 磁场范围在 ±40 到 ±1800 高斯之间
  • 可以配置轨到负轨偏移
  • 高精度、全输出范围高低钳位
  • 集成线性可以在非线性磁性输入中进行灵活的输出波形转换和补偿
• 高级诊断功能可以更容易在系统层面满足 ASIL 要求
  • 利用内部磁力线圈通过主动前端刺激来完成全数据路径验证；这种方法可以为设备操作验证所有相关晶体管
  • 逻辑内建自测试 (LBIST) 可以按照需要验证数字子系统
  • 一大套可配置故障监视器可以提供系统层面的故障探测能力，包括：
    • 过压或欠压
    • 过温保护
    • 磁场超出范围探测
    • 线损坏探测
• 灵活的输出协议，分辨率可以高达 12 位，而且错误通知形式可以配置
  • 数字漏极开路输出可以实现灵活的输出电压水平
  • 脉宽调制 (PWM) 输出具有诊断输出模式，可以识别故障条件
  • 兼容 SENT（单边半字节传输）的输出具有可配置报告功能，可以配置错误条件和其他诊断信息
  • 专利快速 SENT 可以提高数据速率，从而支持高带宽应用
  • 设备共享 SENT 协议作为 SSENT (时序 SENT) 和 ASENT (可编址 SENT) 允许用户在同一输出线路上连接最多 4 台设备，从而提高通信速度。
  • 通过可编程下降时间
    配置能力增强 EMC 调谐
• 集成 EEPROM 可以提供高度可配置性和产品可追溯性
  • 客户预留区可以用于唯一的批次和日期代码信息的板载储存
  • 可靠的 EEPROM 具备单错误校正和双错误探测 (SECDED) 功能
  • 集成电荷泵允许进行应用内编程，编程过程中无需向设备提供高电压